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XRF仪器测厚仪电镀镀层分析仪

更新时间:2025-03-21 12:48:07 编号:s8ei5v3425133
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  • 金属镀层分析仪,X荧光光谱仪,X荧光分析仪,XRF仪器

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XRF仪器测厚仪电镀镀层分析仪

关键词
天瑞光谱仪,测厚仪,光谱仪,膜厚仪
面向地区

元素范围从硫到铀分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米

镀层测厚仪在使用前为减少测量的误差,可以进行简单的调零。用附送的铝或者铁调零板调零即可。调零方法:
1、将探头垂直按压在调零板中间的位置,保持探头的稳定。
2、按下按键,屏幕会提示压紧探头,再根据提示把探头提起15cm以上。
3、屏幕显示0.0则调零完毕。
4、完成后,可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内,则说明仪器可以正常使用了。

镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。

随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。它适用范围广,量程宽、操作简便且,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

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